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贵宾卡制作

智能卡非接触式协议测试 非接触式IC卡因作用距离的不同而分为三个不同类型的卡:

非接触式密耦合卡(CICC),对应标准ISO/IEC 10536-1~4;
非接触式耦合卡(PICC),对应标准ISO/IEC 1443-1~4;
非接触式疏耦合卡(VICC),对应标准ISO/IEC 15693-1~3.

非接触式卡的协议测试包括对射频能量和信号接口的测试,以及对传输协议的测试两部分。其中最常用的PICC类型的卡片需要符合ISO/IEC 14443标准,在该标准中依据射频能量和信号接口的不同,传输协议分为Type A和Type B两种,而每种卡的初始化和抗碰撞方法也不尽相同。Type A和Type B的传输协议相同,是类似T=1的分组传输协议T=CL。

对初始化和抗碰撞的测试主要参考ISO/IEC 14443-3和ISO/IEC 10373-6的增补1,两个文档对Type A和Type B两种智能卡的初始化和抗碰撞与逻辑操作测试有详细说明。Type A卡的初始化和抗碰撞测试包括对轮询的测试、状态机转换测试、抗碰撞测试、
RATS处理测试、PPS请求测试、FSD处理测试等测试。对Type B卡的测试包括卡接收测试、状态机转换测试、抗碰撞测试、ATTRIB处理测试和最大帧长度处理等测试。度Type B卡各种时序的测试见下图。

智能卡非接触式协议测试

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